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科学機器・機材

粒度分布測定装置

動的(DLS)・静的(SLS)光散乱式粒度分布測定装置

レーザー回折・散乱式粒度分布測定装置のパイオニア、シーラス(CILAS)社のナノ粒子粒度分布測定装置は、動的光散乱式(DLS)と静的光散乱式(SLS)を一台に統合したユニークな装置です。光源に半導体レーザー(635nm-25mW)を使用し、ステッピングモータによって検出器が稼働します(マルチアングル機能)。部品を交換せずに同じ光学系を使用して動的光散乱式(DLS)と静的光散乱式(SLS)が利用できますので、ソフトウェア上の操作のみで0.3nmから10μmの広い測定レンジで測定できます。動的光散乱式(DLS)では検出器の角度を最適な角度に設定することで、検出器が固定された装置より精度の高い測定結果が得られます。専用のソフトウェアでは、3ステップで測定が行え、測定時間は約15秒(DLS)、約120秒(SLS)と短時間で測定できます。各測定結果はソフトウェアに内蔵されたデータベースに自動的に保存されます。また、作成した測定条件は標準操作手順(SOP)としてデータベースに保存されます。

レーザー回折散乱式粒度分布測定装置

シーラス(CILAS)社の粒度分布測定装置はレーザー回折式とレーザー散乱式で粒度分布を測定する装置です。焦点距離が275mmと短く一体成型タイプのショートベンチを採用しています。このため、光軸調整の必要がなく、サブミクロンの粒度分布も安定したデータが得 られます。湿式分散と乾式分散が一台の装置に統合された2in1システムは、ハードウェアを交換せず両分散方式で測定ができます。ソフトウェアはデータベースを内蔵しており、新たに屈折率と虚数を入力してリアルタイムで演算する機能が追加されました。オプションのCCD顕微鏡を接続することで画像解析式の粒度分布測定も行え、同時に円相当径やアスペクト比などの粒形情報も測定できます。

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